커버가스 조성 측정 센서

Uncompromising Monitoring for SMR Integrity

커버가스 조성 측정 센서

엑스센트리의
초소형 마이크로 플라즈마 센서로
실시간 무중단 감시를 실현합니다.

복잡한 진공 시스템이나 레이저 장치 없이,
대기압 상태에서 저전력으로 플라즈마를 발생시켜 즉각 분석합니다.

Key Features

실시간 즉각 측정

샘플 채취 과정 없이 1초 이내의 빠른 응답 속도로 가스 조성 변화 감지

초소형·경량화

기존 장비 대비 1/100 수준의 크기로, 원자로 상단 및 협소 공간에 설계 변경 없이 장착 가능

고감도 다중 분석

Xe(제논), Kr(크립톤) 등 핵분열 생성 기체와 O2, H2O 등 극미량 불순물을 동시에 정밀 측정

저비용·고효율

레이저 소모품이나 고가의 진공 펌프가 필요 없어 운영 비용극소화

Technical Specifications

항목 사양 비고
측정 대상 기체 Xe, Kr, He, Ar, O2, H2O, N2 등 다중 기체 동시 분석 가능
측정 범위 ppm ~ % level 고객 요구 사양에 따른 커스텀 가능
분석 주기 < 1 sec (Real-time) 연속 모니터링 지원
작동 환경 최대 700℃ 이상 (특수 패키징 적용 시) 극한 환경 대응 설계
인터페이스 Digital (RS485/Ethernet), Analog (4-20mA) 상위 제어 시스템 연동 가능
크기/무게 Approx. 150 x 100 x 50 mm / < 2kg 센서 헤드 기준

Experimental Evidence

Experimental Evidence
Experimental Evidence